超聲掃描顯微鏡

產(chǎn)品描述：超聲掃描顯微鏡DANA-QC210 用于對(duì)材料科學(xué)，半導(dǎo)體行業(yè)等相應(yīng)產(chǎn)品的內(nèi)部缺陷檢測(cè)，利用高速線(xiàn)性馬達(dá)運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行水浸C 掃描檢測(cè)，全波列采集超聲波信號(hào)，利用成像算法和數(shù)據(jù)圖像處理功能，對(duì)產(chǎn)品內(nèi)部的缺陷進(jìn)行有效識(shí)別，得到內(nèi)部清晰圖像，并統(tǒng)計(jì)分析缺陷位置、形狀和尺寸，生成自定義報(bào)告。

產(chǎn)品型號(hào)
DLT-QC-210
廠(chǎng)商性質(zhì)
生產(chǎn)廠(chǎng)家
更新時(shí)間
2024-06-25
訪(fǎng)問(wèn)量
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超聲波C 掃描檢測(cè)系統(tǒng) DLT-QC-210

產(chǎn)品介紹

超聲掃描顯微鏡

超聲掃描顯微鏡DANA-QC210 用于對(duì)材料科學(xué)，半導(dǎo)體行業(yè)等相應(yīng)產(chǎn)品的內(nèi)部缺陷檢測(cè)，利用高速線(xiàn)性馬達(dá)運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行水浸C 掃描檢測(cè)，全波列采集超聲波信號(hào)，利用成像算法和數(shù)據(jù)圖像處理功能，對(duì)產(chǎn)品內(nèi)部的缺陷進(jìn)行有效識(shí)別，得到內(nèi)部清晰圖像，并統(tǒng)計(jì)分析缺陷位置、形狀和尺寸，生成自定義報(bào)告。

二、產(chǎn)品特點(diǎn) FEATURES

適用產(chǎn)品：芯片、塑料封裝IC、PCB、金屬基板、晶片、半導(dǎo)體電子行業(yè)；Applicable products: chips, plastic packaging IC, PCB, metal substrates,

檢測(cè)結(jié)果穩(wěn)定性、一致性高；

High stability and consistency of test results;

高速定位，快速成像；

High-speed positioning and fast imaging;

操作簡(jiǎn)單，使用安全，檢測(cè)結(jié)果格式多樣化；

Simple operation, applicable safety, flexible and varied formats of test results;

技術(shù)參數(shù) SPECIFICATIONS

運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)/Motion system

XY軸掃描范圍/Scanning range of XY axis 300*300mm (可定制/Customizable)

掃描速度/Scanning speed 1000mm/s

重復(fù)精度/Repetition precision 1um

超聲發(fā)射接收/ Ultrasonic emission and reception

工作頻率范圍/Operating frequency range 0.5MHz~60MHz

激勵(lì)脈沖形式/Excitation pulseform 方波/Square wave

工作溫度/Working temperature -10℃~+50℃

采樣率/Sampling rate 100MHz, 可支持，GHz/100MHz,Support IGHz

重復(fù)頻率/Repetition frequency 20khz

數(shù)據(jù)傳輸率/Data transfer rate 5G

采樣點(diǎn)數(shù)/Sampling points 4K (可定制)/4K(Customizable）

增益調(diào)節(jié)/Gain adjustment -13~66dB 連續(xù)1dB 可調(diào)/- 13~66dB continuous IdB adjustable

軟件功能/Software function

A、B、C、D掃描圖像界面跟蹤、區(qū)域重掃

A,B,C, D scanning imaging Interface tracking, area re-scanning

多種特征成像方式/Multiple imaging methods 多種數(shù)據(jù)處理、圖像處理方式

Multiple data processing and image processing methods

缺陷定位統(tǒng)計(jì)分析/ 數(shù)據(jù)庫(kù)統(tǒng)計(jì)、自定義報(bào)告模板/

Statistical analysis of defect location Database statistics, customizable report template

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